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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 50 N�m: 11 Par: 0 (2002) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

A Spline Large-Signal FET Model Based on Bias-Dependent Pulsed I-V Measurement

Koh

K. Park

H.-M. Hong

S.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 2598 - 2603

N�MERO

Volumen: 50 N�mero: 11 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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