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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 48 N�m: 3 Par: 0 (1999) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

MICROCIRCUITS -- DESIGN, PACKAGING, MANUFACTURE, TEST, USE - Compensation-circuit to improve radiation-hardness in GaAs digital-circuits, based on X-ray studies

Srivastava

A

Ganeshan

M

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 215 - 223

N�MERO

Volumen: 48 N�mero: 3 Parte: 0 (1999)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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