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I+D Tecnol�gico

Inicio / I+D Tecnol�gico / Vol: 13 N�m: 1 Par: 0 (2017) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Evaluaci�n de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuraci�n On-Chip

Jos� Isaza-Gonz�lez

Alejandro Serrano-Cases

Felipe Restrepo-Calle

Sergio Cuenca-Asensi

Antonio Mart�nez-�lvarez (Autor/a)

Resumen

No disponible

Acceso

P�GINAS

pp. 5 - 14

N�MERO

Volumen: 13 N�mero: 1 Parte: 0 (2017)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL
TECNOLOG�A

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