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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 45 N�m: 4 Par: 0 (1996) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Comment on: Bayes reliability growth model during a development testing program

Jain

N

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 610 - 610

N�MERO

Volumen: 45 N�mero: 4 Parte: 0 (1996)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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