REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 52 N�m: 3 Par: 0 (2003) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Extending Integrated-Circuit Yield-Models to Estimate Early-Life Reliability

Barnett

T. S. Singh

A. D. Nelson

V. P.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 296 - 300

N�MERO

Volumen: 52 N�mero: 3 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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