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MATERIALS CHARACTERIZATION

Inicio / MATERIALS CHARACTERIZATION / Vol: 48 N�m: 2-3 Par: 0 (2002) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Studying the high-field electron conduction of tetrahedral amorphous carbon thin films by conducting atomic force microscopy

Luo

E. Z. Lin

S. Xie

Z. Xu

J. B. Wilson

I. H. Yu

Y. H. Yu

L. J. Wang

X.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 205 - 210

N�MERO

Volumen: 48 N�mero: 2-3 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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