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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE / Vol: 20 N�m: 2 Par: 0 (1998) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Analysis of Photometric Properties of Occluding Edges by the Reversed Projection Blurring Model

Asada

N

Fujiwara

H

Matsuyama

T

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 155 - 167

N�MERO

Volumen: 20 N�mero: 2 Parte: 0 (1998)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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