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ARTÍCULO
TITULO

Characterization of threading dislocations in GaN using low-temperature aqueous KOH etching and atomic force microscopy

I. Han    
R. Datta    
S. Mahajan    
R. Bertram    
E. Lindow    
C. Werkhoven    
C. Arena    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 1171 - 1173