REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 50 N�m: 4 Par: 0 (2001) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

An Exponential Reliability-Growth Model in Multicopy Testing Program

Pulcini

G.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 365 - 373

N�MERO

Volumen: 50 N�mero: 4 Parte: 0 (2001)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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