REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 51 N�m: 4 Par: 0 (2002) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Practical Building-In Reliability Approaches for Semiconductor Manufacturing

Chien

W.-T. K. Huang

C. H. J.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 469 - 481

N�MERO

Volumen: 51 N�mero: 4 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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