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IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE

Inicio / IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE / Vol: 41 N�m: 9 Par: 0 (2003) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Programmable Built-In Self-Testing of Embedded RAM Clusters in System-on-Chip Architectures

Benso

A. Di Carlo

S. Di Natale

G. Prinetto

P. Bodoni

M. L.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 90 - 97

N�MERO

Volumen: 41 N�mero: 9 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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