REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 51 N�m: 4 Par: 0 (2002) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Interaction of Interface-Traps Located at Various Sites in MOSFETs Under Stress

Chen

G. Li

M. F. Jin

Y.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 387 - 391

N�MERO

Volumen: 51 N�mero: 4 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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