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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 46 N�m: 2 Par: 0 (1997) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Modeling testing-strategies for yield enhancement of multichip module systems

Kim

Park

Lombardi

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 184 - 191

N�MERO

Volumen: 46 N�mero: 2 Parte: 0 (1997)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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