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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 52 N�m: 2 Par: 0 (2004) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

MEMS 2-Bit Phase-Shifter Failure Mode and Reliability Considerations for Large X-Band Arrays

Teti

J. G. Darreff

F. P.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 693 - 701

N�MERO

Volumen: 52 N�mero: 2 Parte: 0 (2004)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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