REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 53 N�m: 1 Par: 0 (2004) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Competing Causes of Failure and Reliability Tests for Weibull Lifetimes Under Type I Progressive Censoring

Balasooriya

U. Low

C.-K.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 29 - 36

N�MERO

Volumen: 53 N�mero: 1 Parte: 0 (2004)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

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