REVISTA
IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS

Inicio / IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS / Vol: 20 N�m: 5 Par: 0 (2002) / Art�culo

ART�CULO

TITULO

Loop Makeup Identification Via Single Ended Testing: Beyond Mere Loop Qualification

Galli

S. Waring

D. L.

Resumen

No disponible

P�GINAS

pp. 923 - 935

N�MERO

Volumen: 20 N�mero: 5 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIER�A Y CONSTRUCCI�N CIVIL

Revistas destacadas

Acceso directo a los n�meros publicados en la revista Infrastructures

Infrastructures

Acceso directo a los n�meros publicados en la revista Informed Infraestructure

Informed Infraestructure

Acceso directo a los n�meros publicados en la revista BiT

BiT

Acceso directo a los n�meros publicados en la revista Revista de la Construcci�n

Revista de la Construcci�n

Ver todas las revistas disponibles