3 Art�culos

$G$-Band Distributed Microelectromechanical Components Based on CMOS Compatible Fabrication

Solicitud

usuarios registrados

Vaha-Heikkila, T.; Ylonen, M. P�g. 720 - 728

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 56 Num: 3 Par: 0 A�o: 2008

On-Wafer Noise-Parameter Measurements at W-Band

Solicitud

usuarios registrados

Vaha-Heikkila, T. Lahdes, M. Kantanen, M. Tuovinen, J. P�g. 1621 - 1628

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 6 Par: 0 A�o: 2003

A Wide-Band On-Wafer Noise Parameter Measurement System at 50-75 GHz

Solicitud

usuarios registrados

Kantanen, M. Lahdes, M. Vaha-Heikkila, T. Tuovinen, J. P�g. 1489 - 1495

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 5 Par: 0 A�o: 2003

« Anterior P�gina: 1 de 1 Siguiente »