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Thermoelectric Properties and Morphology of Si/SiC Thin-Film Multilayers Grown by Ion Beam Sputtering

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Corson L. Cramer, Casey C. Farnell, Cody C. Farnell, Roy H. Geiss and John D. Williams

Revista: Coatings Formato: Electr�nico

Tabla de contenido: Vol: 8 Num: 3 Par: March A�o: 2018

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