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Refractive Index Variation of Magnetron-Sputtered a-Si1-xGex by ?One-Sample Concept? Combinatory
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en línea
Tivadar Lohner, Benjamin Kalas, Peter Petrik, Zsolt Zolnai, Miklós Serényi and György Sáfrán
Revista:
Applied Sciences
Formato:
Electrónico
Tabla de contenido:
Vol: 8 Num: 5 Par: May Año: 2018
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