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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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23 artículos asociados

Volumen 52 Número 1 Parte 0 Año 2003

Connor, J. A.
Pág. 10 - 13  

Elegbede, A. O. C. Chu, C. Adjallah, K. H. Yalaoui, F.
Pág. 106 - 111  

Brezavscek, A. Hudoklin, A.
Pág. 112 - 117  

Bennett, T. R. Booker, J. M. Keller-McNulty, S. Singpurwalla, N. D.
Pág. 118 - 124  

Klutke, G.-A. Kiessler, P. C. Wortman, M. A.
Pág. 125 - 129  

Salzer, T. E.
Pág. 130 - 132  

Wu, S. Chan, L.-Y.
Pág. 14 - 21  

Sheng, L. Wu, J.
Pág. 22 - 25  

Gasmi, S. Love, C. E. Kahle, W.
Pág. 26 - 32  

Lai, C. D. Xie, M. Murthy, D. N. P.
Pág. 33 - 37  

Mi, J.
Pág. 38 - 43  

Xu, H. Tang, Y.
Pág. 4 - 6  

Lanus, M. Yin, L. Trivedi, K. S.
Pág. 44 - 52  

Constantinescu, C.
Pág. 53 - 57  

Ebrahimi, N. B.
Pág. 58 - 62  

Bell, M. G. H.
Pág. 63 - 68  

Gaudoin, O. Yang, B. Xie, M.
Pág. 69 - 74  

Betensky, R. A. Martin, E. C.
Pág. 7 - 8  

Ye, N. Vilbert, S. Chen, Q.
Pág. 75 - 82  

Lam, Y. Zhang, Y. L.
Pág. 83 - 89  

Birolini, A.
Pág. 9 - 9  

Balakrishnan, N. Kannan, N. Lin, C. T. Ng, H. K. T.
Pág. 90 - 95  

Rauzy, A.
Pág. 96 - 105