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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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16 artículos asociados

Volumen 51 Número 4 Parte 0 Año 2002

Evans, R. A.
Pág. 385 - 385  

Evans, R. A.
Pág. 386 - 386  

Chen, G. Li, M. F. Jin, Y.
Pág. 387 - 391  

Oh, N. McCluskey, E. J.
Pág. 392 - 402  

Ogawa, E. T. Lee, K.-D. Blaschke, V. A. Ho, P. S.
Pág. 403 - 419  

Malaiya, Y. K. Li, N. Bieman, J. M. Karcich, R.
Pág. 420 - 426  

Yu, H.-F. Chiao, C.-H.
Pág. 427 - 433  

Pfefferman, J. D. Cernuschi-Frias, B.
Pág. 434 - 442  

Yeh, F.-M. Lu, S.-K. Kuo, S.-Y.
Pág. 443 - 451  

Pellerey, F. Petakos, K.
Pág. 452 - 454  

Khoshgoftaar, T. M. Allen, E. B. Deng, J.
Pág. 455 - 462  

Yang, G. Yang, K.
Pág. 463 - 468  

Chien, W.-T. K. Huang, C. H. J.
Pág. 469 - 481  

Mittereder, J. A. Roussos, J. A. Anderson, W. T. Ioannou, D. E.
Pág. 482 - 485  

Bunea, C. Bedford, T.
Pág. 486 - 493  

Nourani, M. Attarha, A.
Pág. 494 - 503