REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

17 artículos asociados

Volumen 30 Número 3 Parte 0 Año 2008

Jianxin Wu; Brubaker, S.C.; Mullin, M.D.; Rehg, J.M.
Pág. 369 - 382  

Xudong Jiang; Mandal, B.; Kot, A.
Pág. 383 - 394  

Stahl, J.S.; Song Wang
Pág. 395 - 411  

Melonakos, J.; Pichon, E.; Angenent, S.; Tannenbaum, A.
Pág. 412 - 423  

Fujino, A.; Ueda, N.; Saito, K.
Pág. 424 - 437  

Yang, Li
Pág. 438 - 450  

Jie Yu; Amores, J.; Sebe, N.; Radeva, P.; Qi Tian
Pág. 451 - 462  

Veeraraghavan, A.; Chellappa, R.; Srinivasan, M.
Pág. 463 - 476  

Jingbin Wang; Athitsos, V.; Sclaroff, S.; Betke, M.
Pág. 477 - 492  

Gupta, A.; Mittal, A.; Davis, L.S.
Pág. 493 - 506  

Liangliang Cao; Jianzhuang Liu; Xiaoou Tang
Pág. 507 - 517  

Favaro, P.; Soatto, S.; Burger, M.; Osher, S.J.
Pág. 518 - 531  

Bloy, G.J.
Pág. 532 - 534  

Sanguinetti, G.
Pág. 535 - 540  

Makinen, E.; Raisamo, R.
Pág. 541 - 547  

Hernandez, C.; Vogiatzis, G.; Cipolla, R.
Pág. 548 - 554  

Adam, A.; Rivlin, E.; Shimshoni, I.; Reinitz, D.
Pág. 555 - 560