REVISTA

Revista IDIEM

ISSN: 1111-1178 Frecuencia: 4 Formato: Electr�nica

Tablas de contenido

6 art�culos asociados

Volumen 5 N�mero 2 Parte 0 A�o 1966

T�cnica de r�plicas para fractograf�a en microscop�a electr�nica	Acceso
Irena Dumler, Gabriel Rodr�guez
P�g. P�g. 101 - 108

Notas t�cnicas. Plataforma sub-base y base en caminos y calles. Normalizaci�n internacional de la calidad de una radiograf�a industrial	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
P�g. P�g. 109 - 133

Bibliograf�a	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
P�g. P�g. 135 - 146

Noticias	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
P�g. P�g. 147 - 150

Propiedades mec�nicas y asociadas del pino insigne	Acceso
Hiram Albala
P�g. P�g. 83 - 92

M�todo RILEM de muestreo, confecci�n, conservaci�n y ensayos mec�nicos del hormig�n	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
P�g. P�g. 93 - 100