REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

ISSN: 0018-9480    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

26 artículos asociados

Volumen 45 Número 3 Parte 0 Año 1997

Li, L-W; Kooi, P-S; Leong, M-S; Yeo, T-S; Ho, S-L
Pág. 321 - 329  

Tsai, M-J; Flaviis, F De; Fordham, O; Alexopoulas, N G
Pág. 330 - 337  

Gasmi, A; Huyart, B; Bergeault, E; Jallet, L P
Pág. 338 - 344  

Rozzi, T; Pierantoni, L; Farina, M
Pág. 345 - 353  

Tomiyasu, K
Pág. 354 - 358  

Deshpande, M D; Reddy, C J; Tiemsin, P I; Cravey, R
Pág. 359 - 366  

Petegem, W E A Van; James, C R; Vermeulen, F E; Rabinson, A M
Pág. 367 - 375  

Gimeno, B; Guglielmi, M
Pág. 376 - 384  

Krumpholz, M; Winful, H G; Katehi, L P B
Pág. 385 - 393  

Dmitriyev, V A
Pág. 394 - 401  

Boglione, L; Pollard, R D; Postoyalko, V
Pág. 402 - 407  

Heuermann, H; Schiek, B
Pág. 408 - 413  

Wang, H; Wu, K-L; Litva, J
Pág. 414 - 419  

Kasemsuwan, V; Nokali, M A El
Pág. 420 - 427  

Yang, H Y D
Pág. 428 - 435  

Arcioni, P; Bressan, M; Perregrini, L
Pág. 436 - 438  

Guan, J-M; Su, C-C
Pág. 439 - 441  

Shi, S C; Inatani, J
Pág. 442 - 445  

Nuño, L; Balbastre, J V; Castañé, H
Pág. 446 - 448  

Guha, D; Saha, P K
Pág. 449 - 452  

Matras, P; Bunger, R; Arndt, F
Pág. 453 - 457  

Park, S-O; Balanis, C A
Pág. 458 - 459  

Cheng, K-K M
Pág. 460 - 463  

Pág. 464 - 464  

Pág. 465 - 465  

Pág. 466 - 466