REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

16 artículos asociados

Volumen 47 Número 4 Parte 0 Año 1998

Evans, R A
Pág. 417 - 417  

Pág. 418 - 418  

Denson, W
Pág. 419 - 424  

Gouno, E; Courtrai, L
Pág. 425 - 430  

Sridharan, V; Mohanavadivu, P
Pág. 431 - 435  

Yeh, W
Pág. 436 - 442  

Tang, D; Hecht, M; Miller, J; Handal, J
Pág. 443 - 450  

Ascher, H; Hansen, C
Pág. 451 - 459  

Mi, J
Pág. 460 - 462  

Chandramouli, R; Vijaykrishnan, N; Ranganathan, N
Pág. 463 - 471  

Chang, J; Chen, R; Hwang, F
Pág. 472 - 474  

Pág. 475 - 476  

Pág. 477 - 478  

Pág. 479 - 479  

Pág. 480 - 480  

Pág. 481 - 481