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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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19 artículos asociados

Volumen 51 Número 2 Parte 0 Año 2002

Evans, R. A.
Pág. 129 - 129  

Evans, R. A.
Pág. 130 - 130  

Evans, R. A.
Pág. 131 - 131  

Evans, R. A.
Pág. 132 - 132  

Bierbaum, R. L. Brown, T. D. Kerschen, T. J.
Pág. 133 - 140  

Grall, A. Dieulle, L. Berenguer, C. Roussignol, M.
Pág. 141 - 150  

Ormon, S. W. Cassady, C. R. Greenwood, A. G.
Pág. 151 - 157  

Deconinck, G. De Florio, V. Botti, O.
Pág. 158 - 165  

Mondro, M. J.
Pág. 166 - 167  

Finkelstein, M. S. Zarudnij, V. I.
Pág. 168 - 176  

Teng, S.-L. Yeo, K.-P.
Pág. 177 - 182  

Lyu, M. R. Rangarajan, S. van Moorsel, A. P. A.
Pág. 183 - 192  

Cao, Y. Sun, H. Trivedi, K. S. Han, J. J.
Pág. 193 - 198  

Xing, L. Dugan, J. B.
Pág. 199 - 211  

Alhadeed, A. A. Yang, S.-S.
Pág. 212 - 215  

Robinson, M. E. Crowder, M. J.
Pág. 216 - 222  

Zhang, Y. L.
Pág. 223 - 228  

Houeto, F. Pierre, S. Beaubrun, R. Lemieux, Y.
Pág. 229 - 239  

Meshkat, L. Dugan, J. B. Andrews, J.
Pág. 240 - 251