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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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21 artículos asociados

Volumen 51 Número 3 Parte 0 Año 2002

Evans, R. A.
Pág. 257 - 257  

Evans, R. A.
Pág. 258 - 258  

Evans, R. A.
Pág. 259 - 259  

Evans, R. A.
Pág. 260 - 260  

Huang, C.-Y. Kuo, S.-Y.
Pág. 261 - 270  

McSorley, E. O. Lu, J.-C. Li, C.-S.
Pág. 271 - 277  

Vaurio, J. K.
Pág. 278 - 287  

Yang, G.
Pág. 288 - 293  

Cooke, R. Bedford, T.
Pág. 294 - 310  

Teng, X. Pham, H.
Pág. 311 - 321  

Maillart, L. M. Pollock, S. M.
Pág. 322 - 330  

Hisada, K. Arizino, I.
Pág. 331 - 336  

Soliman, A. A.
Pág. 337 - 343  

Bartlett, L. M. Andrews, J. D.
Pág. 344 - 349  

Hughes, G. F. Murray, J. F. Kreutz-Delgado, K. Elkan, C.
Pág. 350 - 357  

Giglio, B. Naiman, D. Q. Wynn, H. P.
Pág. 358 - 366  

Kumar, M. J. Verma, V.
Pág. 367 - 370  

Klutke, G.-A. Yang, Y.
Pág. 371 - 374  

Bowles, J. B.
Pág. 375 - 377  

Amari, S. V.
Pág. 378 - 379  

Yellman, T. W.
Pág. 380 - 381