REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

ISSN: 0018-9480    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

17 artículos asociados

Volumen 49 Número 4(2) Parte 0 Año 2001

Pág. 848  

Weigel, R; Hashimoto, K
Pág. 741 - 742  

Meier, H; Baier, T; Riha, G
Pág. 743 - 748  

Hikita, M; Takubo, C; Asai, K
Pág. 749 - 753  

Springer, A; Gugler, W; Huemer, M; Koller, R; Weigel, R
Pág. 754 - 760  

Nakamura, H; Yamada, T; Ishizaki, T; Nishimura, K
Pág. 761 - 768  

Su, Q-X; Kirby, P; Komuro, E; Imura, M; Zhang, Q; Whatmore, R
Pág. 769 - 778  

Ostermayer, G
Pág. 779 - 786  

Reindl, L; Ruppel, C C W; Berek, S; Knauer, U; Vossiek, M; Heide, P; Or
Pág. 787 - 794  

Drafts, B
Pág. 795 - 802  

Reindl, L; Ruppel, C C W; Kirmayr, A; Stockhausen, N; Hilhorst, M A; Balend
Pág. 803 - 808  

Ostermayer, G
Pág. 809 - 816  

Hausleitner, C; Steindl, R; Pohl, A; Hauser, H; Goíser, A M J; Siefert
Pág. 817 - 822  

Enguang, D
Pág. 823 - 826  

Avramov, I D; Kurosawa, S; Rapp, M; Krawczak, P; Radeva, E I
Pág. 827 - 837  

Martin, G; Chen, D
Pág. 838 - 843  

Morgan, D P
Pág. 844 - 847