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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

21 artículos asociados

Volumen 49 Número 1 Parte 0 Año 2000

Evans, R A
Pág. 1 - 1  

Huang, H; Zuo, M J; Wu, Y
Pág. 105 - 111  

Pág. 112 - 116  

Pág. 117 - 117  

Pág. 118 - 118  

Pág. 119 - 121  

Traon, Y Le; Jéron, T; Jézéquel, J-M; Morel, P
Pág. 12 - 25  

Pág. 122 - 122  

Pág. 123 - 123  

Evans, R A
Pág. 2 - 2  

Mayrhauser, A von; France, R; Scheetz, M; Dahlman, E
Pág. 26 - 36  

Chien, W-T K
Pág. 3 - 3  

Goseva-Popstojanova, K; Trivedi, K S
Pág. 37 - 48  

Khoshgoftaar, T M; Allen, E B; Jones, W D; Hudepohl, J P
Pág. 4 - 11  

Bechta Dugan, J; Sullivan, K J; Coppit, D
Pág. 49 - 59  

Briand, L C; Pfahl, D
Pág. 60 - 70  

Levitin, G
Pág. 71 - 79  

Lee, K W
Pág. 80 - 84  

Amari, S V
Pág. 85 - 87  

Hosseini, M M; Kerr, R M; Randall, R B
Pág. 88 - 98  

Zuo, M J; Lin, D; Wu, Y
Pág. 99 - 104