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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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13 artículos asociados

Volumen 50 Número 4 Parte 0 Año 2001

Pasquini, A. Pistolesi, G. Rizzo, A.
Pág. 337 - 345  

Ja, S.-S. Kulkarni, V. G. Mitra, A. Patankar, J. G.
Pág. 346 - 352  

Lu, H. Kolarik, W. J. Lu, S. S.
Pág. 353 - 357  

Keren, B. Mehrez, A.
Pág. 358 - 359  

Nakamura, M. Katafuchi, T. Hatazaki, H.
Pág. 360 - 364  

Pulcini, G.
Pág. 365 - 373  

Lee, S. M. Park, D. H.
Pág. 374 - 379  

Levitin, G.
Pág. 380 - 388  

Rauzy, A.
Pág. 389 - 396  

AboElFotoh, H. M. F. Al-Sumait, L. S.
Pág. 397 - 408  

Jin, T. Coit, D. W.
Pág. 409 - 413  

Finkelstein, M. S.
Pág. 414 - 418  

Yang, Y. Klutke, G.-A.
Pág. 419 - 421