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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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20 artículos asociados

Volumen 47 Número 3 Parte 1 Año 1998

Evans, R A
Pág. 209 - 209  

Pág. 210 - 210  

Pág. 211 - 211  

Pág. 211 - 211  

Battaglini, G; Ciciani, B
Pág. 212 - 224  

Cheng, S
Pág. 225 - 233  

Ren, Y; Dugan, J
Pág. 234 - 244  

Berman, O; Kumar, U
Pág. 245 - 254  

Prasad, V; Raghavachari, M
Pág. 255 - 260  

Ginebra, J; Sen, A
Pág. 261 - 267  

Smidts, C; Stutzke, M; Stoddard, R
Pág. 268 - 278  

Liu, H
Pág. 279 - 284  

Belzunce, F; Candel, J; Ruiz, J
Pág. 285 - 296  

Evans, R A
Pág. 297 - 297  

Pág. 298 - 298  

Pág. 299 - 299  

Pág. 300 - 300  

Pág. 300 - 300  

Pág. 301 - 302  

Pág. 303 - 303