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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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17 artículos asociados

Volumen 50 Número 2 Parte 0 Año 2001

Pág. 129 - 129  

Pág. 130 - 130  

Golomski, W A J
Pág. 131 - 134  

Castillo, E; Lacruz, B; Lasala, P; Lekuona, A
Pág. 135 - 144  

Roy, D; Dasgupta, T
Pág. 145 - 150  

Zhang, T; Horigome, M
Pág. 151 - 158  

Schneeweiss, W G
Pág. 159 - 164  

Chen, M-H; Lyu, M R; Wong, W E
Pág. 165 - 170  

Ammar, H H; Nikzadeh, T; Dugan, J B
Pág. 171 - 183  

Stutzke, M A; Smidts, C S
Pág. 184 - 193  

Tal, O; McCollin, C; Bendell, T
Pág. 194 - 203  

Hagwood, C; Rosenthal, L
Pág. 204 - 208  

Glen, A G; Leemis, L M; Barr, D R
Pág. 209 - 213  

Roy, D
Pág. 214 - 220  

Bukowski, J V; Goble, W M
Pág. 221 - 228  

Pág. 229 - 230  

Pág. 231 - 231