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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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18 artículos asociados

Volumen 46 Número 4 Parte 0 Año 1997

Pág. 448 - 449  

Parhami, B
Pág. 450 - 451  

Verma, A; Tamhankar, M
Pág. 452 - 459  

Amari, S; Misra, R
Pág. 460 - 461  

Sun, H; Shieh, S
Pág. 462 - 472  

Chan, Y; Yim, E; Marsh III, A
Pág. 473 - 486  

Coit, D
Pág. 487 - 493  

Azadmanesh, M; Krings, A
Pág. 494 - 502  

Rubinstein, R; Levitin, G; Lisnianksi, A; Ben-Haim, H
Pág. 503 - 511  

Kar, T; Nachlas, J
Pág. 512 - 518  

Amari, S; Misra, R
Pág. 519 - 522  

Farnum, N; Booth, P
Pág. 523 - 525  

Perman, M; Senegacnik, A; Tuma, M
Pág. 526 - 532  

Pág. 533 - 533  

Pág. 533 - 533  

Pág. 534 - 535  

Pág. 536 - 536  

Pág. 537 - 537