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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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18 artículos asociados

Volumen 47 Número 1 Parte 0 Año 1998

Pág. 101 - 101  

Pág. 102 - 102  

Pág. 103 - 103  

Somani, A; Zhang, T
Pág. 19 - 29  

Kvam, P
Pág. 30 - 34  

Dao, H; Silio Jt, C
Pág. 35 - 43  

Kyandoghere, K
Pág. 44 - 45  

Padgett, W
Pág. 46 - 52  

Gottfried, P
Pág. 5 - 5  

Chande, P; Tokekar, S
Pág. 53 - 58  

Polatioglu, H; Sahin, I
Pág. 59 - 65  

Rao, V
Pág. 6 - 7  

Garg, A; Kalagnanam, J
Pág. 66 - 72  

Luo, T; Trivedi, K
Pág. 73 - 78  

Coit, D; Smith, A
Pág. 79 - 87  

Varvarigou, T; Trotter, J
Pág. 8 - 18  

Dupuis, D; Mills, J
Pág. 88 - 95  

Pág. 96 - 100