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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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37 artículos asociados

Volumen 45 Número 4 Parte 0 Año 1996

Evans, R
Pág. 513 - 513  

Evans, R
Pág. 513 - 513  

Pecht, Michael G
Pág. 514 - 514  

Paradkar, A; Tai, K; Vouk, M
Pág. 515 - 530  

Pasquini,; Crespo,; Matrella,
Pág. 531 - 540  

Hou,; Kuo,; Chang,
Pág. 541 - 549  

Bishop, P; Bloomfield, R
Pág. 550 - 559  

Pág. 560 - 560  

Thakur, A; Iyer, R
Pág. 561 - 569  

Pág. 570 - 570  

Shahabudin, P
Pág. 571 - 571  

Ushakov, I
Pág. 572 - 572  

Liu, H; Makis, V
Pág. 573 - 580  

Pág. 581 - 581  

Fries, A; Sen, A
Pág. 582 - 603  

Pág. 604 - 604  

Platis,; Limnios,; Du, Le
Pág. 605 - 609  

Jain, N
Pág. 610 - 610  

Bai, D; Yun, H
Pág. 611 - 617  

Pág. 618 - 618  

Barbosa,; Colosimo,; Louzada-Neto,
Pág. 619 - 622  

Pág. 623 - 623  

Takano, T; Yamada, T; Shutoh, K; Kanekawa, N
Pág. 624 - 631  

Morasca, S
Pág. 632 - 637  

Ye, N
Pág. 638 - 644  

Pág. 645 - 645  

Hou, R; Kuo, S; Chang, Y
Pág. 646 - 651  

El Aroui, M; Soler, J
Pág. 652 - 659  

Pág. 660 - 660  

Wang, H; Elsayed, E
Pág. 661 - 665  

Hsieh, H
Pág. 666 - 670  

Chen, Z; Mi, J
Pág. 671 - 677  

Boesch, F; Gross, D; Suffel, C
Pág. 678 - 683  

Pág. 684 - 684  

Navarro, J; Ruiz, J
Pág. 685 - 690  

Pág. 691 - 692  

Pág. 693 - 693