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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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34 artículos asociados

Volumen 46 Número 3 Parte 0 Año 1997

Pág. 305 - 305  

Pág. 305 - 305  

Pág. 305 - 305  

Rees, R
Pág. 306 - 306  

II, C Ericson; Schneidewind, N
Pág. 307 - 307  

Kishimoto, W
Pág. 308 - 315  

Choi, C; Johnson, B; III, J Profeta
Pág. 316 - 322  

Yen, I; Chen, I
Pág. 323 - 331  

Pág. 332 - 332  

Hood, C; Ji, C
Pág. 333 - 340  

Smith, A
Pág. 341 - 341  

Wang, S; Ke, W
Pág. 342 - 348  

Knaft, G
Pág. 349 - 349  

Pierre, S; Elgibaoui, A
Pág. 350 - 358  

Pág. 359 - 359  

Lee, H; Lie, C; Hong, J
Pág. 360 - 365  

Smith, D; Johnson, B; Andrianos, N; III, J Profeta
Pág. 366 - 374  

Sheu, S
Pág. 375 - 381  

Pág. 382 - 382  

Linton, D; Khajenoori, S; Halder, K
Pág. 383 - 388  

Jiang, R; Murthy, D
Pág. 389 - 392  

Pág. 393 - 393  

Tyoskin, O; Sonkina, T
Pág. 394 - 398  

Pág. 399 - 399  

Ogunyemi, O; Nelson, P
Pág. 400 - 404  

Pág. 405 - 405  

Johnson, L; Johnson, M
Pág. 406 - 420  

Behr, A; Camarinopoulos, L
Pág. 421 - 428  

Pág. 429 - 429  

Moorsel, A van; Sanders, W
Pág. 430 - 439  

Pág. 440 - 440  

Sahner,; Trivedi,; Puliafito,; Shahabudin, P
Pág. 441 - 441  

Pág. 442 - 442  

Pág. 443 - 443