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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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22 artículos asociados

Volumen 29 Número 4 Parte 0 Año 2007

Salil Prabhakar; Josef Kittler; Davide Maltoni; Lawrence O'Gorman; Tieniu Tan
Pág. 513 - 516  

Sinjini Mitra; Marios Savvides; Anthony Brockwell
Pág. 517 - 530  

Patrick Grother; Elham Tabassi
Pág. 531 - 543  

Arun Ross; Jidnya Shah; Anil K. Jain
Pág. 544 - 560  

Nalini K. Ratha; Sharat Chikkerur; Jonathan H. Connell; Ruud M. Bolle
Pág. 561 - 571  

Yi Wang; Jiankun Hu; Damien Phillips
Pág. 573 - 585  

Donald M. Monro; Soumyadip Rakshit; Dexin Zhang
Pág. 586 - 595  

Jason Thornton; Marios Savvides; B.V.K. Vijaya Kumar
Pág. 596 - 606  

Hugo Proenca; Luis A. Alexandre
Pág. 607 - 612  

Pradeep Buddharaju; Ioannis T. Pavlidis; Panagiotis Tsiamyrtzis; Mike Bazakos
Pág. 613 - 626  

Stan Z. Li; RuFeng Chu; ShengCai Liao; Lun Zhang
Pág. 627 - 639  

Ioannis A. Kakadiaris; Georgios Passalis; George Toderici; Mohammed N. Murtuza; Yunliang Lu; Nikos Karampatziakis; Theoharis Theoharis
Pág. 640 - 649  

Jian Yang; David Zhang; Jing-yu Yang; Ben Niu
Pág. 650 - 664  

Peng Wang; Qiang Ji; James L. Wayman
Pág. 665 - 670  

Chang Huang; Haizhou Ai; Yuan Li; Shihong Lao
Pág. 671 - 686  

Terence Sim; Sheng Zhang; Rajkumar Janakiraman; Sandeep Kumar
Pág. 687 - 700  

Marius Bulacu; Lambert Schomaker
Pág. 701 - 717  

Hui Chen; Bir Bhanu
Pág. 718 - 737  

Ramaswamy Palaniappan; Danilo P. Mandic
Pág. 738 - 742  

Sebastien Marcel; Jose del R. Millan
Pág. 743 - 752  

Pág. 749 - 751  

Pág. 752 - 752