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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

ISSN: 0018-9480    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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Volumen 45 Número 5 (2) Parte 0 Año 1997

Bandler, J W
Pág. 709 - 711  

Veluswami, A; Nakhla, M S; Zhang, Q-J
Pág. 712 - 723  

Jain, N; Onno, P
Pág. 724 - 746  

Arndt, F; Beyer, R; Reiter, J M; Sieverding, T; Wolf, T
Pág. 747 - 760  

Bandler, J W; Biernacki, R M; Chen, S H; Huang, Y F
Pág. 761 - 769  

Bandler, J W; Biernacki, R M; Chen, S H; Hendrick, L W; Omeragic, D
Pág. 770 - 779  

Ye, S; Mansour, R R
Pág. 780 - 786  

Mongiardo, M; Ravanelli, R
Pág. 787 - 793  

Creech, G L; Paul, B J; Lesniak, C D; Jenkins, T J; Calcatera, M C
Pág. 794 - 802  

Lee, H; Itoh, T
Pág. 803 - 809  

Brauer, J R; Lizalek, G C
Pág. 810 - 818  

Kuo, C-N; Houshmand, B; Itoh, T
Pág. 819 - 826  

Sun, W; Dai, W W-M; Hong, W
Pág. 827 - 836  

Adve, R S; Sarkar, T K; Rao, S M; Miller, E K; Pflug, D R
Pág. 837 - 845  

Bonani, F; Guerrieri, S Donati; Filicori, F; Ghione, G; Pirola, M
Pág. 846 - 855  

Alos, J T; Guglielmi, M
Pág. 856 - 857  

Miazga, P; Gwarek, W
Pág. 858 - 860  

Zhang, M; Weiland, T
Pág. 861 - 863  

Kolundzija, B M; Djordjevic, A R
Pág. 864 - 864