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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

ISSN: 0018-9480    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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Volumen 46 Número 5 (2) Parte 0 Año 1998

Luy, J-F; Ponchak, G E
Pág. 569 - 571  

Cressler, J D
Pág. 572 - 589  

Russer, P
Pág. 590 - 603  

Biber, C E; Schmatz, M L; Morf, T; Lott, U; Bächtold, W
Pág. 604 - 610  

Chan, Y-J; Huang, C-H; Weng, C-C; Liew, B-K
Pág. 611 - 615  

Warns, C; Menzel, W; Schumacher, H
Pág. 616 - 622  

Yang, S; Hu, Z; Buchanan, N B; Fusco, V F; Stewart, J A C; Wu, Y; Armstron
Pág. 623 - 631  

Milanovic, V; Ozgur, M; DeGroot, D C; Jargon, J A; Gaitan, M; Zaghloul, M E
Pág. 632 - 640  

Wu, Y; Armstrong, B M; Gamble, H S; Hu, Z; Chen, Q; Yang, S; Fusco, V F;
Pág. 641 - 646  

Haaren, B Van; Regis, M; Llopis, O; Escotte, L; Gruhle, A; Mähner, C;
Pág. 647 - 652  

Ansley, W E; Cressler, J D; Richey, D M
Pág. 653 - 660  

Götzfried, R; Beisswanger, F; Gerlach, S; Schüppen, A; Dietrich, H
Pág. 661 - 668  

Strohm, K M; Buechler, J; Kasper, E
Pág. 669 - 676  

Nishikawa, K; Toyoda, I; Kamogawa, K; Tokumitsu, T
Pág. 677 - 684  

Rieh, J-S; Lu, L-H; Katehi, L P B; Bhattacharya, P; Croke, E T; Ponchak, G
Pág. 685 - 694  

Bruce, S P O; Rydberg, A; Kim, M; Beisswanger, F J; Luy, J-F; Schumacher, H
Pág. 695 - 700  

Wollitzer, M; Buechler, J; Luy, J-F; Siart, U; Schmidhammer, E; Detlefsen,
Pág. 701 - 708  

Heinrich, W; Gerdes, J; Schmückle, F J; Rheinfelder, C; Strohm, K
Pág. 709 - 711  

Dürr, W; Erben, U; Schuppen, A; Dietrich, H; Schumacher, H
Pág. 712 - 714  

Rasshofer, R H; Thieme, M O; Biebl, E M
Pág. 715 - 718  

Kühne, R D; Kasper, E
Pág. 719 - 719