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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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13 artículos asociados

Volumen 22 Número 9 Parte 0 Año 2000

North, B; Blake, A; Isard, M; Rittscher, J
Pág. 1016 - 1034  

Lim, J H; Leonard, J J
Pág. 1035 - 1041  

Hall, P; Marshall, D; Martin, R
Pág. 1042 - 1049  

Florack, L
Pág. 1050 - 1054  

Cong, G; Parvin, B
Pág. 1055 - 1055  

Bowyer, K
Pág. 21 - 922  

Kim, D; Bang, S Y
Pág. 923 - 937  

Kato, Y; Yasuhara, M
Pág. 938 - 949  

Mangasarian, O L; Musicant, D R
Pág. 950 - 955  

Boshra, M; Bhanu, B
Pág. 956 - 969  

Privitera, C M; Stark, L W
Pág. 970 - 982  

Olson, C F
Pág. 983 - 991  

Stein, G P; Shashua, A
Pág. 992 - 1015