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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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13 artículos asociados

Volumen 22 Número 12 Parte 0 Año 2000

Bowyer, K
Pág. 1345 - 1346  

Bowyer, K
Pág. 1347 - 1347  

Bowyer, K; Flynn, P
Pág. 1348 - 1348  

Smeulders, A W M; Worring, M; Santini, S; Gupta, A; Jain, R
Pág. 1349 - 1380  

Shen, X; Palmer, P
Pág. 1381 - 1395  

Leung, Y; Zhang, J-S; Xu, Z-B
Pág. 1396 - 1410  

Leavers, V F
Pág. 1411 - 1423  

Pantic, M; Rothkrantz, L J M
Pág. 1424 - 1445  

Horaud, R; Csurka, G; Demirdijian, D
Pág. 1446 - 1452  

Kakadiaris, I; Metaxas, D
Pág. 1453 - 1459  

Reed, M K; Allen, P K
Pág. 1460 - 1466  

Hammah, R E; Curran, J H
Pág. 1467 - 1472  

Pág. 1473 - 1473