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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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23 artículos asociados

Volumen 49 Número 2 Parte 0 Año 2000

Evans, R A
Pág. 125 - 125  

Evans, R A
Pág. 126 - 126  

Wilson, J R; Hunt, R C
Pág. 127 - 130  

Sherwin, D J
Pág. 131 - 132  

Sperber, R
Pág. 133 - 133  

Ascher, H E; Hansen, C K
Pág. 134 - 135  

Feinberg, A A; Widom, A
Pág. 136 - 146  

Rao, R V V V J; Chong, T C; Tan, L S; Lau, W S
Pág. 147 - 152  

Lim, T J; Lie, C H
Pág. 153 - 162  

Petakos, K I
Pág. 163 - 164  

Kubat, P; Smith, J M; Yum, C
Pág. 165 - 175  

Kuo, W; Prasad, V R
Pág. 176 - 187  

Lopez-Benitez, N
Pág. 188 - 198  

Balasooriya, U; Balakrishnan, N
Pág. 199 - 203  

Phillips, M J
Pág. 204 - 208  

Khoshgoftaar, T M; Allen, E B
Pág. 209 - 216  

Wang, W; Kececioglu, D B
Pág. 217 - 223  

Owen, W J; Padgett, W J
Pág. 224 - 229  

Andrews, J D; Dunnett, S J
Pág. 230 - 238  

Pág. 239 - 239  

Pág. 240 - 240  

Pág. 241 - 243  

Pág. 244 - 244