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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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13 artículos asociados

Volumen 22 Número 11 Parte 0 Año 2000

Kanungo, T; Karalick, R M; Baird, H S; Stuezle, W; Madigan, D
Pág. 1209 - 1223  

Lee, K-H; Choy, Y-C; Cho, S-B
Pág. 1224 - 1240  

Chuang, J-H; Tsai, C-H; Ko, M-C
Pág. 1241 - 1251  

Jiang, X
Pág. 1252 - 1265  

Kovàcs-Vajna, Z M
Pág. 1266 - 1276  

Hwang, W-S; Weng, J
Pág. 1277 - 1293  

Chojnacki, W; Brooks, M J; Hengel, A van den; Gawley, D
Pág. 1294 - 1303  

Chen, Y-K; Wang, J-F
Pág. 1304 - 1317  

Carreira-Perpiñàn, M À
Pág. 1318 - 1323  

Sanchiz, J M; Fisher, R B
Pág. 1324 - 1329  

Zhang, Z
Pág. 1330 - 1334  

Li, S Z; Chan, K L; Wang, C
Pág. 1335 - 1339  

Kiryati, N; Bruckstein, A M; Mizrahi, H
Pág. 1340 - 1340