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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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20 artículos asociados

Volumen 48 Número 3 Parte 0 Año 1999

Evans, R A
Pág. 209 - 209  

Pág. 210 - 210  

Pág. 211 - 211  

Pág. 212 - 212  

Vaurio, J
Pág. 213 - 214  

Srivastava, A; Ganeshan, M
Pág. 215 - 223  

Chung, M; You, J; Sung, D; Choi, B
Pág. 224 - 233  

Kuo, S; Lu, S; Yeh, F
Pág. 234 - 246  

Wu, J
Pág. 247 - 255  

Lieber, D; Nemirovskii, A; Rubinstein, R
Pág. 256 - 261  

Ghai, G; Mi, J
Pág. 262 - 266  

Amari, S; Dugan, J; Misra, R
Pág. 267 - 274  

Amari, S; Dugan, J; Misra, R
Pág. 275 - 284  

Sitte, R
Pág. 285 - 291  

Kaufman, L; Dugan, J; Johnson, B
Pág. 292 - 299  

Yip, P; Xi, L; Fong, D; Hayakawa, Y
Pág. 300 - 305  

Chang, H; Hwang, F
Pág. 306 - 308  

Pág. 309 - 309  

Pág. 310 - 310  

Pág. 311 - 311