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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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19 artículos asociados

Volumen 52 Número 2 Parte 0 Año 2003

Pham, H.
Pág. 146 - 147  

McLinn, J. A.
Pág. 148 - 148  

Tustin, W.
Pág. 149 - 149  

Abouammoh, A. M. Qamber, I. S.
Pág. 150 - 153  

Ulrey, M. L.
Pág. 154 - 161  

Fry, A. J.
Pág. 162 - 167  

Boland, P. J. Singh, H.
Pág. 168 - 174  

Rauzy, A.
Pág. 175 - 180  

Zhao, R. Liu, B.
Pág. 181 - 191  

Levitin, G.
Pág. 192 - 199  

Mathai, A. M.
Pág. 200 - 206  

Cancela, H. El Khadiri, M.
Pág. 207 - 212  

Andrews, J. D. Beeson, S.
Pág. 213 - 219  

Ou, Y. Dugan, J. B.
Pág. 220 - 230  

Levitin, G.
Pág. 231 - 237  

Sun, H. Han, J. J. Levendel, H.
Pág. 238 - 244  

Xiang, D. Chen, A. Wu, J.
Pág. 245 - 256  

Quigley, J. Walls, L.
Pág. 257 - 262  

Levitin, G.
Pág. 263 - 269