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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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18 artículos asociados

Volumen 48 Número 2 Parte 0 Año 1999

Evans, R A
Pág. 105 - 105  

Pág. 106 - 106  

Pág. 107 - 107  

Sung, C; Cho, Y
Pág. 108 - 117  

Prasad, V; Kuo, W; Kim, K
Pág. 118 - 126  

Jones, J; Hayes, J
Pág. 127 - 134  

Ascher, H
Pág. 135 - 140  

Xiong, C; Milliken, G
Pág. 141 - 148  

Shiau, J; Lin, H
Pág. 149 - 158  

Ledoux, J
Pág. 159 - 168  

Pham, H; Nordmann, L; Zhang, X
Pág. 169 - 175  

Hagwood, C; Clough, R; Fields, R
Pág. 176 - 181  

Ayhan, H; Limon-Robles, J; Wortman, M
Pág. 182 - 188  

Moon, M; Vardeman, S; McBeth, D
Pág. 189 - 198  

Lim, J; Park, D
Pág. 199 - 204  

Pág. 205 - 205  

Pág. 206 - 206  

Pág. 207 - 207