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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529    Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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13 artículos asociados

Volumen 52 Número 4 Parte Año 2003

Huang, C.-T. Wu, C.-F. Li, J.-F. Wu, C.-W.
Pág. 386 - 399  

Ferrandi, F. Fummi, F. Pravadelli, G. Sciuto, D.
Pág. 400 - 412  

Thaller, K. Steininger, A.
Pág. 413 - 422  

Zhao, J. Meyer, F. J. Lombardi, F. Park, N.
Pág. 423 - 434  

Jiang, J. H. Jone, W.-B. Chang, S.-C. Ghosh, S.
Pág. 435 - 443  

Allen, W. P. M. Bailey, D. G. Demidenko, S. N. Piuri, V.
Pág. 444 - 457  

Bolchini, C.
Pág. 458 - 468  

Metra, C. Schiano, L. Favalli, M.
Pág. 469 - 475  

Cardarilli, G. C. Leandri, A. Marinucci, P. Ottavi, M. Pontarelli, S. Re, M. Salsano, A.
Pág. 476 - 491  

Piestrak, S. J. Dandache, A. Monteiro, F.
Pág. 492 - 500  

Wu, K. Karri, R.
Pág. 501 - 511  

Scherrer, C. Steininger, A.
Pág. 512 - 522  

Barros, A. Berenguer, C. Grall, A.
Pág. 523 - 534