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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828    Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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15 artículos asociados

Volumen 25 Número 12 Parte 0 Año 2003

Wang, L. Tan, T. Ning, H. Hu, W.
Pág. 1505 - 1518  

Ma, L. Tan, T. Wang, Y. Zhang, D.
Pág. 1519 - 1533  

Singh, S.
Pág. 1534 - 1539  

Roth, V. Laub, J. Kawanabe, M. Buhmann, J. M.
Pág. 1540 - 1551  

Pan, Z. Healey, G. Prasad, M. Tromberg, B.
Pág. 1552 - 1560  

Beiden, S. V. Maloof, M. A. Wagner, R. F.
Pág. 1561 - 1569  

Inoue, M. Ueda, N.
Pág. 1570 - 1581  

Suzuki, K. Horiba, I. Sugie, N.
Pág. 1582 - 1596  

Lobo, J. Dias, J.
Pág. 1597 - 1608  

Carcassoni, M. Hancock, E. R.
Pág. 1609 - 1614  

Sim, T. Baker, S. Bsat, M.
Pág. 1615 - 1618  

Fablet, R. Bouthemy, P.
Pág. 1619 - 1624  

Ye, M. Haralick, R. M. Shapiro, L. G.
Pág. 1625 - 1630  

Kim, K. I. Jung, K. Kim, J. H.
Pág. 1631 - 1638  

Acharyya, M. De, R. K. Kundu, M. K.
Pág. 1639 - 1644