Evaluation of incident radiation by a V-Concentration System (VCS) in Bogotá, D.C. [Evaluación de la radiación incidente por un sistema de concentración en V (SCV) en Bogotá, D.C.]

Resumen

The study presents the behavior of a V concentration system (VCS), as a way to estimate the incident radiation on a flat surface, based on the solar coordinates described in the equations of Spencer, J.W. Increasing the areas of solar capture is a way to expand the solar radiation, captured on a flat surface by reflection. Maximizing the fraction of solar radiation captured; for that purpose, the V-Concentration System (VCS) was developed, adding four flat mirror surfaces to a flat surface, each with an inclination angle to the (flat) pickup surface. A statistical model was described to find a regression and thus expose the specific behavior areas of reflection on the (VCS), with the purpose of finding the optimal angle which achieves an increase in the uptake of radiation on a flat surface.Keywords:  V-Concentration System (VCS), Incident Radiation, Flat Surface, Solar Radiation, Reflection. ResumenSe presenta un estudio para observar el comportamiento de un sistema de concentración en V (SCV), como medio para estimar la radiación incidente sobre una superficie plana, con base en las coordenadas solares descritas en las ecuaciones de Spencer, J. W. Aumentar las áreas de captación solar es una forma para incrementar la radiación solar capturada por una superficie plana por medio de la reflexión. Maximizando la fracción de radicación solar captada; para tal propósito fue desarrollado el sistema de concentración en V (SCV), que agrega cuatro superficies de espejos planos a una superficie plana, cada una con un ángulo de inclinación respecto a la superficie de captación (plana). De estos se elaboró un modelo estadístico para encontrar una regresión y así exponer el comportamiento específico de las áreas de reflexión del (SCV), con el propósito de encontrar el ángulo óptimo que lograra un incremento en la captación de radiación sobre la superficie plana. Palabras clave:  Sistema de concentración en V (SCV), Radiación incidente, Superficie plana, Radiación solar, Reflexión.  ResumoUm estudo é apresentado para observar o comportamento de um sistema de concentração V (VCI), como um meio de estimar a radiação incidente em uma superfície plana, com base nas coordenadas solares descritas nas equações de Spencer, J. W.Aumentar as áreas de captação solar é uma forma de aumentar a radiação solar captada por uma superfície plana por meio da reflexão. Maximizar a fração de radiação solar capturada; Para este propósito, foi desenvolvido o sistema de concentração em V (SCV), que adiciona quatro superfícies de espelhos planos a uma superfície plana, cada uma com um ângulo de inclinação em relação à superfície de coleta (plana). A partir deles, um modelo estatístico foi desenvolvido para encontrar uma regressão e, assim, expor o comportamento específico das áreas de reflexão (SCV), a fim de encontrar o ângulo ideal que alcançaria um aumento na captação de radiação na superfície plana. Palavras-chave: V-Concentration System (SCV), Radiação incidente, Superfície plana, Radiação solar, Reflexão.