ARTÍCULO
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Materials and Electrical Characterization of Er(Si1-xGex)2-y Films Formed on Si1-xGex(001) (x=0¿0.3) via Rapid Thermal Annealing

E. J. Tan    
K. L. Pey    
D. Z. Chi    
P. S. Lee    
Y. Setiawan    
and K. M. Hoe    

Resumen

No disponible

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